Cargando…

7th International Conference on Large Scale Applications and Radiation Hardness of Semiconductor Detectors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Civinini, Carlo, Focardi, Ettore
Lenguaje:eng
Publicado: 2007
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/844568

Ejemplares similares