Micron-scale smoothing of the Ni/C Multilayer Roughness

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Kovalenko, N V, Mytnichenko, S V, Chernov, V A
Lenguaje:rus
Publicado: 2002
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/898071
Descripción
Descripción no disponible.

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