CMOS Technology Characterization for analog/RF application

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Seebacher, Ehrenfried
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 2005
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-2005-011.33
http://cds.cern.ch/record/920017
Descripción
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