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Defect generation by radioactive decay of light elements in n-type silicon

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bollmann, J, Thieme, M, Weber, J
Lenguaje:eng
Publicado: 2006
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2005.12.026
http://cds.cern.ch/record/946189

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