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Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels
Autor principal: | |
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Lenguaje: | fre |
Publicado: |
Masson
1980
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Materias: | |
Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/99524 |
_version_ | 1780876230400147456 |
---|---|
author | Bajenesco, Titu I |
author_facet | Bajenesco, Titu I |
author_sort | Bajenesco, Titu I |
collection | CERN |
id | cern-99524 |
institution | Organización Europea para la Investigación Nuclear |
language | fre |
publishDate | 1980 |
publisher | Masson |
record_format | invenio |
spelling | cern-995242021-04-22T06:22:19Zhttp://cds.cern.ch/record/99524freBajenesco, Titu IProblèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuelsEngineeringMassonoai:cds.cern.ch:995241980 |
spellingShingle | Engineering Bajenesco, Titu I Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels |
title | Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels |
title_full | Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels |
title_fullStr | Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels |
title_full_unstemmed | Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels |
title_short | Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels |
title_sort | problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels |
topic | Engineering |
url | http://cds.cern.ch/record/99524 |
work_keys_str_mv | AT bajenescotitui problemesdelafiabilitedescomposantselectroniquesactifsactuels |