Focal adhesions degrade the ECM

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Short, Ben
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: The Rockefeller University Press 2012
Materias:
News
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3275376/
http://dx.doi.org/10.1083/jcb.1963iti3
Descripción
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