Advanced atomic force microscopy techniques II

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Glatzel, Thilo, Garcia, Ricardo, Schimmel, Thomas
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: Beilstein Institute 2014
Materias:
Editorial
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4273268/
https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25551060
http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.5.241
Descripción
Sumario:

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