Advanced atomic force microscopy techniques III

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Glatzel, Thilo, Schimmel, Thomas
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: Beilstein-Institut 2016
Materias:
Editorial
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4979673/
https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27547623
http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.7.98

Internet

https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4979673/
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http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.7.98

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