Analysis at the Atomic Level: The Atom Probe Field-Ion Microscope

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Miller, M. K.
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: [Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology 1988
Materias:
Article
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5181926/
http://dx.doi.org/10.6028/jres.093.083
Descripción
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