Cargando…

Multitechnique Approach to Trace Characterization of High Purity Materials: Gallium

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gangadharan, S., Natarajan, S., Arunachalam, J., Jaikumar, S., Burangey, S. V.
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: [Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology 1988
Materias:
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5181936/
http://dx.doi.org/10.6028/jres.093.093

Ejemplares similares