Cargando…

Suturing the mucosal defect after ESD

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Kato, Motohiko, Yahagi, Naohisa
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: © Georg Thieme Verlag KG 2020
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7458746/
https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32898198
http://dx.doi.org/10.1055/a-1216-1717

Ejemplares similares