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Paradigmenwechsel in der E/E-Architektur führt zu hochriskanten Abhängigkeiten
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| Publicado: |
Springer Fachmedien Wiesbaden
2021
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| spelling | pubmed-78618872021-02-05 Paradigmenwechsel in der E/E-Architektur führt zu hochriskanten Abhängigkeiten Bernhart, Wolfgang Kirschstein, Thomas ATZ Elektron Entwicklung Springer Fachmedien Wiesbaden 2021-02-05 2021 /pmc/articles/PMC7861887/ http://dx.doi.org/10.1007/s35658-020-0564-9 Text en © Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature 2021 This article is made available via the PMC Open Access Subset for unrestricted research re-use and secondary analysis in any form or by any means with acknowledgement of the original source. These permissions are granted for the duration of the World Health Organization (WHO) declaration of COVID-19 as a global pandemic. |
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