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Paradigmenwechsel in der E/E-Architektur führt zu hochriskanten Abhängigkeiten

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bernhart, Wolfgang, Kirschstein, Thomas
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: Springer Fachmedien Wiesbaden 2021
Materias:
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7861887/
http://dx.doi.org/10.1007/s35658-020-0564-9