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Paradigm Shift in E/E Architectures Leads to Risky Dependencies

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bernhart, Wolfgang, Kirschstein, Thomas
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: Springer Fachmedien Wiesbaden 2021
Materias:
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7861888/
http://dx.doi.org/10.1007/s38314-020-0567-6

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