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  1. 541
    por Brown, I. D.
    Publicado 1996
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    Online Artículo Texto
    CIF (Crystallographic Information File): A Standard for Crystallographic Data Interchange
  2. 542
    por Goehner, R. P., Michael, J. R.
    Publicado 1996
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    Phase Identification in a Scanning Electron Microscope Using Backscattered Electron Kikuchi Patterns
  3. 543
    por McMahon, Brian
    Publicado 1996
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    The Role of Journals in Maintaining Data Integrity: Checking of Crystal Structure Data in Acta Crystallographica
  4. 544
    por Cage, M. E., Jeffery, A.
    Publicado 1996
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    Intrinsic Capacitances and Inductances of Quantum Hall Effect Devices
  5. 545
    por Cage, M. E.
    Publicado 1996
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    Evidence That Voltage Rather Than Resistance is Quantized in Breakdown of the Quantum Hall Effect
  6. 546
    por Proctor, James E., Yvonne Barnes, P.
    Publicado 1996
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    NIST High Accuracy Reference Reflectometer-Spectrophotometer
  7. 547
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    The Condensate Wave Function of a Trapped Atomic Gas
  8. 548
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    Atomic Phase Conjugation From a Bose Condensate
  9. 549
    por Ilinski, Kirill N., Moroz, Alexander
    Publicado 1996
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    Aspect Ratio Analysis for Ground States of Bosons in Anisotropic Traps
  10. 550
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    Optical Fiber Geometry: Accurate Measurement of Cladding Diameter
  11. 551
    por Doiron, Ted
    Publicado 1993
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    Drift Eliminating Designs for Non-Simultaneous Comparison Calibrations
  12. 552
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    A Three-Ratio Scheme for the Measurement of Isotopic Ratios of Silicon
  13. 553
    por Kim, Yong-Ki
    Publicado 1992
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    Compact Fitting Formulas for Electron-Impact Cross Sections
  14. 554
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    Optical Calibration of a Submicrometer Magnification Standard
  15. 555
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    Measuring the Electron’s Charge and the Fine-Structure Constant by Counting Electrons on a Capacitor
  16. 556
    por Cage, M. E.
    Publicado 1993
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    Dependence of Quantized Hall Effect Breakdown Voltage on Magnetic Field and Current
  17. 557
    por Bell, Barry A.
    Publicado 1990
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    Standards for Waveform Metrology Based on Digital Techniques
  18. 558
    por Mitchell, G. D., Bell, A. A.
    Publicado 1991
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    Accurate and Precise Coulometric Determination of Sulfur Dioxide in Compressed Gas Mixtures
  19. 559
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    Program Report: The Advanced Technology Program: A New Role for NIST in Accelerating the Development of Commercially Important Technologies
  20. 560
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    Letter to the Editor: Silicon Reference Materials Certified for Isotope Abundances
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