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  1. 181
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Non-Contact Methods for Measuring Front Cavity Depths of Laboratory Standard Microphones Using a Depth-Measuring Microscope
  2. 182
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    Metrology and Standards Needs for Some Categories of Medical Devices
  3. 183
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    Accelerating Scientific Discovery Through Computation and Visualization III. Tight-Binding Wave Functions for Quantum Dots
  4. 184
    por Phillips, S. D., Toman, B., Estler, W. T.
    Publicado 2008
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Uncertainty Due to Finite Resolution Measurements
  5. 185
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    Microarray Scanner Performance Over a Five-Week Period as Measured With Cy5 and Cy3 Serial Dilution Slides
  6. 186
    por Doiron, Ted
    Publicado 2008
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Gauge Blocks – A Zombie Technology
  7. 187
    por Doiron, Ted
    Publicado 2007
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    20 °C—A Short History of the Standard Reference Temperature for Industrial Dimensional Measurements
  8. 188
    por Bennett, Herbert S.
    Publicado 2007
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Will Future Measurement Needs of the Semiconductor Industry Be Met?
  9. 189
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    “Once is Enough” in Radiometric Calibrations
  10. 190
    por Singerman, David
    Publicado 2007
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    “A Doubt is at Best an Unsafe Standard”: Measuring Sugar in the Early Bureau of Standards
  11. 191
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Complex Permittivity of Planar Building Materials Measured With an Ultra-Wideband Free-Field Antenna Measurement System
  12. 192
    por Mielenz, Klaus D.
    Publicado 2006
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    Optical Diffraction in Close Proximity to Plane Apertures. IV. Test of a Pseudo-Vectorial Theory
  13. 193
    por Tsai, Benjamin K.
    Publicado 2006
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    A Summary of Lightpipe Radiation Thermometry Research at NIST
  14. 194
    por Parr, Albert C.
    Publicado 2006
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    A Tale About the First Weights and Measures Intercomparison in the United States in 1832
  15. 195
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Phase Transformations in the High-T(c) Superconducting Compounds, Ba(2)RCu(3)O(7−δ) (R = Nd, Sm, Gd, Y, Ho, and Er)
  16. 196
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Development of a Thin Film Magnetic Moment Reference Material
  17. 197
    por Wolf, Gerhard
    Publicado 2008
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    On the Asymptotic Behavior of the Fourier Coefficients of Mathieu Functions
  18. 198
    por Gaigalas, Adolfas K., Wang, Lili
    Publicado 2008
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Measurement of the Fluorescence Quantum Yield Using a Spectrometer With an Integrating Sphere Detector
  19. 199
    por McLinden, Mark O., Splett, Jolene D.
    Publicado 2008
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    A Liquid Density Standard Over Wide Ranges of Temperature and Pressure Based on Toluene
  20. 200
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Optical Frequency Metrology of an Iodine-Stabilized He-Ne Laser Using the Frequency Comb of a Quantum-Interference-Stabilized Mode-Locked Laser
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