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  1. 301
    por Toman, Blaza
    Publicado 2005
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Bayesian Approach to Assessing Uncertainty and Calculating a Reference Value in Key Comparison Experiments
  2. 302
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    A Link-Level Simulator of the cdma2000 Reverse-Link Physical Layer
  3. 303
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    Virtual Environment for Manipulating Microscopic Particles With Optical Tweezers
  4. 304
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    On the Stability of Exponential Backoff
  5. 305
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    Towards High Accuracy Reflectometry for Extreme-Ultraviolet Lithography
  6. 306
    por VanLandingham, Mark R.
    Publicado 2003
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Review of Instrumented Indentation
  7. 307
    por Cook, L. P., Wong-Ng, W., Feenstra, R.
    Publicado 2005
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    Ba(OH)(2) Equilibria in the System Ba-O-H-F, With Application to the Formation of Ba(2)YCu(3)O(6.5 + x) From BaF(2)-Precursors
  8. 308
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    Quantitating Fluorescence Intensity From Fluorophore: Assignment of MESF Values
  9. 309
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    The GOES Time Code Service, 1974–2004: A Retrospective
  10. 310
    por Mitchell, William F.
    Publicado 2005
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    Hamiltonian Paths Through Two- and Three-Dimensional Grids
  11. 311
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    A Summary of Heat-Flux Sensor Calibration Data
  12. 312
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Chemistry of Silanes: Interfaces in Dental Polymers and Composites
  13. 313
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Developing a More Rapid Test to Assess Sulfate Resistance of Hydraulic Cements
  14. 314
    por Matthews, J., Cage, M. E.
    Publicado 2005
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Temperature Dependence of the Hall and Longitudinal Resistances in a Quantum Hall Resistance Standard
  15. 315
    por Paulter, N. G., Larson, D. R.
    Publicado 2005
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    The “Median” Method for the Reduction of Noise and Trigger Jitter on Waveform Data
  16. 316
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Comparison of the NIST and BIPM Medium-Energy X-Ray Air-Kerma Measurements
  17. 317
    por Flater, David
    Publicado 2003
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    A Logical Model of Conceptual Integrity in Data Integration
  18. 318
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    New National Air-Kerma-Strength Standards for (125)I and (103)Pd Brachytherapy Seeds
  19. 319
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Changes in the U.S. Primary Standards for the Air Kerma From Gamma-Ray Beams
  20. 320
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Optical-Fiber Power Meter Comparison Between NIST and PTB
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