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  1. 481
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Treasure of the Past VII: Measurement of the Thickness and Refractive Index of Very Thin Films and the Optical Properties of Surfaces by Ellipsometry
  2. 482
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    Report on the Development of the Advanced Encryption Standard (AES)
  3. 483
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    Characterization of Corning EPMA Standard Glasses 95IRV, 95IRW, and 95IRX
  4. 484
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    Averaging of Backscatter Intensities in Compounds
  5. 485
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    Contamination in the Rare-Earth Element Orthophosphate Reference Samples
  6. 486
    por Geller, Joseph D., Engle, Paul D.
    Publicado 2002
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    Sample Preparation for Electron Probe Microanalysis—Pushing the Limits
  7. 487
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    High Count Rate Electron Probe Microanalysis
  8. 488
    por Heinrich, Kurt F. J.
    Publicado 2002
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    Uncertainty in Quantitative Electron Probe Microanalysis
  9. 489
    por Jarosewich, Eugene
    Publicado 2002
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    Smithsonian Microbeam Standards
  10. 490
    por Marinenko, R. B.
    Publicado 2002
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    NIST Standards for Microanalysis and the Certification Process
  11. 491
    por Newbury, Dale E.
    Publicado 2002
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    Barriers to Quantitative Electron Probe X-Ray Microanalysis for Low Voltage Scanning Electron Microscopy
  12. 492
    por Newbury, Dale E.
    Publicado 2002
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    X-Ray Microanalysis in the Variable Pressure (Environmental) Scanning Electron Microscope
  13. 493
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    The Microcalorimeter for Industrial Applications
  14. 494
    por Reed, Stephen J. B.
    Publicado 2002
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    Optimization of Wavelength Dispersive X-Ray Spectrometry Analysis Conditions
  15. 495
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Implications of Polishing Techniques in Quantitative X-Ray Microanalysis
  16. 496
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Decomposition of Wavelength Dispersive X-Ray Spectra
  17. 497
    por Rez, Peter
    Publicado 2002
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    Accurate Cross Sections for Microanalysis
  18. 498
    por Small, J. A.
    Publicado 2002
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    The Analysis of Particles at Low Accelerating Voltages (≤ 10 kV) With Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS)
  19. 499
    por Statham, Peter J.
    Publicado 2002
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Limitations to Accuracy in Extracting Characteristic Line Intensities From X-Ray Spectra
  20. 500
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Microbeam Characterization of Corning Archeological Reference Glasses: New Additions to the Smithsonian Microbeam Standard Collection
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