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  1. 621
    por Cage, M. E., Jeffery, A.
    Publicado 1999
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Analyzing the Effects of Capacitances-to-Shield in Sample Probes on AC Quantized Hall Resistance Measurements
  2. 622
    por McCaleb, Michael R.
    Publicado 1999
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    A Conceptual Data Model of Datum Systems
  3. 623
    por Murthy, A. V., Tsai, B. K., Gibson, C. E.
    Publicado 1997
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Calibration of High Heat Flux Sensors at NIST
  4. 624
    por Villarrubia, J. S.
    Publicado 1997
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Algorithms for Scanned Probe Microscope Image Simulation, Surface Reconstruction, and Tip Estimation
  5. 625
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    A Complete Multimode Equivalent-Circuit Theory for Electrical Design
  6. 626
    por Zimmerman, B. E., Collé, R.
    Publicado 1997
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Standardization of (63)Ni by 4πβ Liquid Scintillation Spectrometry With (3)H-Standard Efficiency Tracing
  7. 627
    por Cage, M. E., Jeffery, A., Matthews, J.
    Publicado 1999
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Equivalent Electrical Circuit Representations of AC Quantized Hall Resistance Standards
  8. 628
    por Gray, Martha M.
    Publicado 1999
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Applicability of Metrology to Information Technology
  9. 629
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Performance Verification of Impact Machines for Testing Plastics
  10. 630
    por Subbarao, Madhavi W.
    Publicado 1999
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Dynamic Power-Conscious Routing for MANETs: An Initial Approach
  11. 631
    por Zhang, Wei
    Publicado 1999
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Formulation of Multiple Diffraction by Trees and Buildings for Radio Propagation Predictions for Local Multipoint Distribution Service
  12. 632
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Mixing Plate-Like and Rod-Like Molecules With Solvent: A Test of Flory-Huggins Lattice Statistics
  13. 633
    por Smith, David R., Fickett, F. R.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Low-Temperature Properties of Silver
  14. 634
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Comparison of the NIST and ENEA Air Kerma Standards
  15. 635
    por Mitchell, William F.
    Publicado 1998
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    The Refinement-Tree Partition for Parallel Solution of Partial Differential Equations
  16. 636
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Thermal Conductivity of Magnesium Oxide From Absolute, Steady-State Measurements
  17. 637
    por Wong-Ng, Winnie, Cook, Lawrence P.
    Publicado 1998
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Liquidus Diagram of the Ba-Y-Cu-O System in the Vicinity of the Ba(2)YCu(3)O(6+x) Phase Field
  18. 638
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Conference Report: THIRD INTERNATIONAL CONFERENCE ON INFORMATION AND KNOWLEDGE MANAGEMENT (CIKM-94) Gaithersburg, MD November 29–December 1, 1994
  19. 639
    por Hungate, Joseph
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Conference Report: Application Portability Profile and Open System Environment Users’ Forum Gaithersburg, MD May 11–12, 1994
  20. 640
    por Ruhl, Mary K., Antonishek, Tish
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Conference Report: Federal Wireless Users’ Forum Workshop Gaithersburg, MD June 7–9, 1994
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