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  1. 641
    por Tison, Stuart A., Looney, J. Patrick
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Conference Report: Workshop on Water: its Measurement and Control in Vacuum Gaithersburg, MD May 23–25, 1994
  2. 642
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Deposition of Diamond Films in a Closed Hot Filament CVD System
  3. 643
    por Munro, R. G., Malghan, S. G., Hsu, S. M.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Variances in the Measurement of Ceramic Powder Properties
  4. 644
    por Walker, James H., Thompson, Ambler
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Spectral Radiance of a Large-Area Integrating Sphere Source
  5. 645
    por Yap, William T., Durst, Richard A.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    On the Applications of Discontinuous Bessel Integrals to Chronoamperometry
  6. 646
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Preparation and Calibration of Carrier-Free (209)Po Solution Standards
  7. 647
    por Cage, M. E., Lavine, C. F.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Potential and Current Distributions Calculated Across a Quantum Hall Effect Sample at Low and High Currents
  8. 648
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Conference Report: COMPASS ’95 TENTH ANNUAL CONFERENCE ON COMPUTER ASSURANCE Gaithersburg, MD June 26–30, 1995
  9. 649
    por Fowler, Joel B.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    A Third Generation Water Bath Based Blackbody Source
  10. 650
    por Hopp, Theodore H., Levenson, Mark S.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Performance Measures for Geometric Fitting in the NIST Algorithm Testing and Evaluation Program for Coordinate Measurement Systems
  11. 651
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    A Study on the Reuse of Plastic Concrete Using Extended Set-Retarding Admixtures
  12. 652
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Microform Calibration Uncertainties of Rockwell Diamond Indenters
  13. 653
    por Wu, Yung Chi, Berezansky, Paula A.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Low Electrolytic Conductivity Standards
  14. 654
    por Anderson, H. M., Radovanov, S. B.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Dusty Plasma Studies in the Gaseous Electronics Conference Reference Cell
  15. 655
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Reactive Ion Etching in the Gaseous Electronics Conference RF Reference Cell
  16. 656
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Conference Report: FORTY-SEVENTH ANNUAL GASEOUS ELECTRONICS CONFERENCE Gaithersburg, MD October 18–21, 1994
  17. 657
    por Govindan, T. R., Meyyappan, M.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    One-Dimensional Modeling Studies of the Gaseous Electronics Conference RF Reference Cell
  18. 658
    por Hebner, G. A., Greenberg, K. E.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Optical Diagnostics in the Gaseous Electronics Conference Reference Cell
  19. 659
    por Hopkins, M. B.
    Publicado 1995
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Langmuir Probe Measurements in the Gaseous Electronics Conference RF Reference Cell
  20. 660
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Two-Dimensional Self-Consistent Radio Frequency Plasma Simulations Relevant to the Gaseous Electronics Conference RF Reference Cell
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