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  1. 841
    por Marks, Roger B., Williams, Dylan F.
    Publicado 1992
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    A General Waveguide Circuit Theory
  2. 842
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Resistive Liquid-Vapor Surface Sensors for Liquid Nitrogen and Hydrogen
  3. 843
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    Fracture Toughness of Advanced Ceramics at Room Temperature
  4. 844
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Erratum: Optical Calibration of a Submicrometer Magnification Standard
  5. 845
    por Newton, Judith
    Publicado 1992
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Conference Report: DATA ADMINISTRATION MANAGEMENT ASSOCIATION SYMPOSIUM Gaithersburg, MD May 12–13, 1992
  6. 846
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    The Development of a Standard Reference Material for Calibration of the University of Pittsburgh Smoke Toxicity Method for Assessing the Acute Inhalation Toxicity of Combustion Products
  7. 847
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Certification of NIST SRM 1962: 3 μm Diameter Polystyrene Spheres
  8. 848
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Optical Calibration of a Submicrometer Magnification Standard
  9. 849
    por Muth, Lorant A.
    Publicado 1992
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Probe-Position Error Correction in Planar Near Field Measurements at 60 GHz: Experimental Verification
  10. 850
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Measuring the Electron’s Charge and the Fine-Structure Constant by Counting Electrons on a Capacitor
  11. 851
    por Misakian, Martin
    Publicado 1993
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Coil Probe Dimension and Uncertainties During Measurements of Nonuniform ELF Magnetic Fields
  12. 852
    por Ma, M. T., Adams, J. W.
    Publicado 1993
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Characteristics of Unknown Linear Systems Deduced from Measured CW Magnitude
  13. 853
    por Balzar, Davor
    Publicado 1993
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    X-Ray Diffraction Line Broadening: Modeling and Applications to High-T(c) Superconductors
  14. 854
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Evaluation of Serum Volume Losses During Long-Term Storage
  15. 855
    por Cage, M. E.
    Publicado 1993
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Dependence of Quantized Hall Effect Breakdown Voltage on Magnetic Field and Current
  16. 856
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Conference Report: WORKSHOP ON CHARACTERIZING DIAMOND FILMS II Gaithersburg, MD February 24–25, 1993
  17. 857
    por Dapkunas, S. J.
    Publicado 1993
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Conference Report: NIST-INDUSTRY WORKSHOP ON THERMAL SPRAY COATINGS RESEARCH Gaithersburg, MD July 20, 1992
  18. 858
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Results of a CCPR Intercomparison of Spectral Irradiance Measurements by National Laboratories
  19. 859
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Certification of SRM1960: Nominal 10 μm Diameter Polystyrene Spheres (“Space Beads”)
  20. 860
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Construction and Calibration of the NIST Large-Area-Source X-Ray Counting System
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