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  1. 1161
    por Yeung, Edward S.
    Publicado 1988
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Applications of Lasers in Bioanalytical Chemistry
  2. 1162
    por Kawasaki, T., Wong, O., Wang, C., Kuwana, T.
    Publicado 1988
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Trace Biogenic Amine Analysis with Pre-Column Derivatization and with Fluorescent and Chemiluminescent Detection in HPLC
  3. 1163
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Homogeneous Electrochemical Immunoassay Using a Chemically Modified Electrode
  4. 1164
    por Heinrich, K. F. J.
    Publicado 1988
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Accuracy in Quantitative Electron Probe Microanalysis
  5. 1165
    por Grasserbauer, M.
    Publicado 1988
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Quantitative Secondary Ion Mass Spectrometry
  6. 1166
    por Newbury, Dale E.
    Publicado 1988
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Quantitative Compositional Mapping on a Micrometer Scale
  7. 1167
    por De Biévre, Paul
    Publicado 1988
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    Transferring Accuracy to the Trace Level and Then to the Field
  8. 1168
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Accuracy in Trace Analysis—Accomplishments, Goals, Challenges: September 28–October 1, 1987 Gaithersburg, MD
  9. 1169
    por Colclough, A. R.
    Publicado 1987
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Two Theories of Experimental Error
  10. 1170
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Submicrometer Linewidth Metrology In the Optical Microscope
  11. 1171
    por Postek, Michael T., Joy, David C.
    Publicado 1987
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Submicrometer Microelectronics Dimensional Metrology: Scanning Electron Microscopy
  12. 1172
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Instrument-Independent CAD Spectral Databases: Absolute Cross-Section Measurements In QQQ Instruments
  13. 1173
    por Davis, R. S.
    Publicado 1987
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Note on the Choice of a Sensitivity Weight In Precision Weighing
  14. 1174
    por Collé, R., Karp, Pekka
    Publicado 1987
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    MEASUREMENT UNCERTAINTIES: REPORT OF AN INTERNATIONAL WORKING GROUP MEETING
  15. 1175
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    The Continuity of the Meter: The Redefinition of the Meter and the Speed Of Visible Light
  16. 1176
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    The NBS Scale Of Radiance Temperature
  17. 1177
    por Moulder, J. C., Capobianco, T. E.
    Publicado 1987
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Detection and Sizing of Surface Flaws With a SQUID-Based Eddy Current Probe
  18. 1178
    por Woolley, Harold W.
    Publicado 1987
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Ideal Gas Thermodynamic Functions For Water
  19. 1179
    por Taylor, B. N.
    Publicado 1987
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    Special Report on Electrical Standards: Report on the 17(th) Session Of the Consultative Committee On Electricity
  20. 1180
    por Isaac, Irene E.
    Publicado 1987
    “…[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology…”
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    COMPUTER SECURITY—FOR TODAY… AND FOR TOMORROW
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