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Fault diagnosis of analog integrated circuits
Autor principal: | |
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Otros Autores: | , |
Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Dordrecht :
Springer,
c2005.
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Colección: | Frontiers in electronic testing ;
30. |
Materias: | |
Acceso en línea: | http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0663/2006275156-d.html http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0823/2006275156-t.html |
Internet
http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0663/2006275156-d.htmlhttp://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0823/2006275156-t.html
Unidad de Servicios Bibliotecarios y de Información Xalapa -
Número de Clasificación: |
TK7874.654 K32 2005 |
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