Fault diagnosis of analog integrated circuits

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Kabisatpathy, Prithviraj
Otros Autores: Barua, Alok, Sinha, Satyabroto
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Dordrecht : Springer, c2005.
Colección:Frontiers in electronic testing ; 30.
Materias:
Circuitos integrados lineales.
Acceso en línea:http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0663/2006275156-d.html
http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0823/2006275156-t.html

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