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Homotopía aplicada a la prueba de circuitros integrados analógicos en la búsqueda de fallas de fabricación /
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Tesis Libro |
| Lenguaje: | Spanish |
| Publicado: |
Xalapa Veracruz,
Universidad Veracruzana, Facultad de Instrumentación Electrónica,
2015
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Instrumentación Electrónica y Ciencias Atmosféricas Xalapa -
| Número de Clasificación: |
IEL0252 |
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| Copia 1 |
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Notas:
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