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Homotopía aplicada a la prueba de circuitros integrados analógicos en la búsqueda de fallas de fabricación /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Vázquez Martínez, Gonzalo (autor)
Otros Autores: Vázquez Leal, Héctor (Director)
Formato: Tesis Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: Xalapa Veracruz, Universidad Veracruzana, Facultad de Instrumentación Electrónica, 2015

MARC

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300 |a 66 paginas,  |b ilustraciones,  |c 28cm. 
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