Cargando…

Homotopía aplicada a la prueba de circuitros integrados analógicos en la búsqueda de fallas de fabricación /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Vázquez Martínez, Gonzalo (autor)
Otros Autores: Vázquez Leal, Héctor (Director)
Formato: Tesis Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: Xalapa Veracruz, Universidad Veracruzana, Facultad de Instrumentación Electrónica, 2015

Ejemplares similares