Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Egerton, R. F. (autor)
Formato: Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: Switzerland : Springer, [2016].
Edición:Second Edition
Materias:
Microscopía electrónica

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Número de Clasificación: QH212.E4 E33 2016
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