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Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM /
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | Spanish |
| Publicado: |
Switzerland :
Springer,
[2016].
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| Edición: | Second Edition |
| Materias: |
| Descripción Física: | xi, 196 páginas : ilustraciones (algunas en color) ; 24 cm. |
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| Bibliografía: | Incluye bibliografías e índice. |
| ISBN: | 9783319398761 |