Micro-pattern technology gets set for more challenges

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Cattai, A, Revol, Jean Pierre Charles
Lenguaje:eng
Publicado: 2006
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1035640

Internet

http://cds.cern.ch/record/1035640

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