2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Seiler, David G, Diebold, Alain C, McDonald, Robert, Garner, C Michael, Herr, Dan, Khosla, Rajinder P, Secula, Erik M
Lenguaje:eng
Publicado: AIP 2007
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1059904

Internet

http://cds.cern.ch/record/1059904

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