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Measurement of the partial ($n,\gamma$) cross section to $^{176}Lu^{m}$ at s-process temperatures

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Winckler, N, Dababneh, S, Heil, M, Käppeler, F, Bisterzo, S, Gallino, R
Lenguaje:eng
Publicado: 2006
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1099520