Semiconductor Material and Device Characterization

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Schroder, Dieter K
Lenguaje:eng
Publicado: Wiley 2006
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1099749

Internet

http://cds.cern.ch/record/1099749

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