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International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instrument

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gao, Wei, Takaya, Yasuhiro, Gao, Yongsheng, Krystek, Michael
Lenguaje:eng
Publicado: 2008
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1120456