Report no. 10: Comparison test between gate circuits of the firm "X" and CERN NP-type 2229

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Righini, B
Lenguaje:eng
Publicado: 1967
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1160531

Internet

http://cds.cern.ch/record/1160531

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