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Semi-automatic analysis of electron micrographs and diffraction patterns
Autores principales: | , |
---|---|
Lenguaje: | eng |
Publicado: |
1980
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Materias: | |
Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/124213 |
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Lenguaje: | eng |
Publicado: |
1980
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Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/124213 |