Design and characterization of an SEU-robust register in 130nm CMOS for application in HEP ASICs

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bonacini, S
Publicado: 2010
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/5/11/C11019
http://cds.cern.ch/record/1352697
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares