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Identification of GeV electrons via particle multiplicity in a silicon detector: measurement and EGS simulation

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Heijne, Erik H M, Jarron, Pierre, Jenkins, T, Nelson, W R, Ing, H
Lenguaje:eng
Publicado: 1982
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1016/0167-5087(83)90006-6
http://cds.cern.ch/record/140816