Defects in ZnO, CdTe, and Si: Optical, structural, and electrical characterization

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Deicher, M, Bollmann, J, Gerten, R, Henry, M, Johnston, K, Cullen, J, Peaker, A R, Markevich, V, Thewalt, M, Türker, M, Wichert, Th, Wolf, H
Publicado: 2012
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1411637

Internet

http://cds.cern.ch/record/1411637

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