Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Strong, Alvin Wayne
Lenguaje:eng
Publicado: Wiley-IEEE Press 2009
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1480741

Internet

http://cds.cern.ch/record/1480741

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