System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Wang, Laung-Terng, Stroud, Charles E, Touba, Nur A
Lenguaje:eng
Publicado: Morgan Kaufmann Publishers 2008
Materias:
Computing and Computers
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1512028

Internet

http://cds.cern.ch/record/1512028

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