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Proceedings of the International Symposium on X-Ray Microscopy
| Autores principales: | , |
|---|---|
| Lenguaje: | eng |
| Publicado: |
Springer
1984
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-38833-3 http://cds.cern.ch/record/1623314 |