4th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Benninghoven, A, Okano, J, Shimizu, R, Werner, H
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1984
Materias:
Other Fields of Physics
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-82256-8
http://cds.cern.ch/record/1627342

Internet

https://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-82256-8
http://cds.cern.ch/record/1627342

Ejemplares similares