3rd International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Benninghoven, A, Giber, J, László, J, Riedel, M, Werner, H
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1982
Materias:
Engineering
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-88152-7
http://cds.cern.ch/record/1627432

Internet

https://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-88152-7
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