25th International Conference on Defects in Semiconductors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bagraev, Nikolay T, Emtsev, Vadim V, Estreicher, Stefan K
Lenguaje:eng
Publicado: 2009
Materias:
Condensed Matter
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1640956

Internet

http://cds.cern.ch/record/1640956

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