NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Tanner, Brian, Bowen, D
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1980
Materias:
XX
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-1126-4
http://cds.cern.ch/record/1641239
Descripción
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