Limits to Drift Chamber Resolution at the 80 μm Level

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Riegler, W
Lenguaje:eng
Publicado: 2000
Materias:
Talk
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1743867

Internet

http://cds.cern.ch/record/1743867

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