Edge-TCT measurements on irradiated HV-CMOS Sensors

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: WEISSER, Constantin
Lenguaje:eng
Publicado: 2014
Materias:
Summer Student Lecture Programme General
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1749310

Internet

http://cds.cern.ch/record/1749310

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