Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Goel, Sandeep K, Chakrabarty, Krishnendu
Lenguaje:eng
Publicado: CRC Press 2014
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1988883

Internet

http://cds.cern.ch/record/1988883

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