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9th International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Nakamura, Nobuyuki, Ohtani, Shunsuke
Lenguaje:eng
Publicado: 2004
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2145911